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三坐标测量仪发展历程以及测头系统配置

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三坐标测量仪发展历程以及测头系统配置

* 来源 : * 作者 : admin * 发表时间 : 2019-04-23 * 浏览 : 25
三坐标测量仪有接触式和非接触式两种类型,非接触式三坐标测量机是在接触式三坐标测量机基础上发展起来,现在我们来了解下他们的发展历程。
    接触式三坐标测量机,它是通过探针碰触产品实现自动测量,它的优势是可以自动测量,减少人为误差,对于大尺寸的产品编程序并实现批量测量。但是问题是接触式测量只能对面及柱、锥、球等几何实体进行测量,而且探针在使用之前必须根据零件被测的特征大小进行选择,校准后才能使用。 
    在接触式三坐标的测量程序自动运行中,必须一点一点地碰触,经历趋近,碰点,回弹的过程,不仅耗时,而且必须具备安全空间才可以使用。探针的针径最小直径在0.3mm以内,在编程时就已经很困难了,而且探针容易发生碰撞的事故。那么薄壁、易变形的产品就更加不能碰触了。 
    随着精密和维细制造的数字化水平的发展,产品集成化大势所趋,微小产品的快速高精度测量成为业界日益紧迫的任务。接触式三坐标测量仪能够实现自动测量已经无法完全满足要求。 
    随着光学、机械、电子等技术的发展和高度融合,三维光学测量仪器和多元传感的三维光学测量仪器应运而生了。 
    三维光学测量仪器优异的影像识别能力使得全自动测量成为可能。批量的产品数百数据可以通过按一个按钮实现自动测量和自动输出结果,改变传统的依靠经验的手动测量方式,使自动测量的重复性控制在微米级,极大程度地提高检测水平,促进制造品质的提高。
    从三坐标测量机的发展历程得出这样的结论,随着现代工业的发展,在不久的将来,必然会出现比非接触式三坐标测量机机更加先进的仪器。但丝毫不影响,非接触式三坐标测量机在目前阶段精密测量仪器行业中的至尊地位。